В статье рассматриваются методы защиты логических элементов комбинационных схем от одиночных отказов. До недавнего времени проблема создания микроэлектронных устройств, устойчивых к единичным отказам в логических элементах, была актуальна преимущественно в военной и космической промышленности. В этих областях предъявляются повышенные требования к отказоустойчивости схем из-за воздействия внешних дестабилизирующих факторов. Такими факторами могут быть тяжелые заряженные частицы, влияющие на работу логических элементов и вызывающие их единичные отказы. В связи с масштабированием полупроводниковых устройств меняются технологические стандарты проектирования и изготовления интегральных схем, и проблема отказоустойчивости становится актуальной и для устройств гражданского рынка. В статье предложена методика ресинтеза уязвимых участков логических комбинационных схем. Для оценки устойчивости предлагается использовать логические ограничения, полученные методом резолюций.

Ключевые слова: ресинтез, комбинационные схемы, надежность, логические корреляции, метод резолюций

2.3.1 - Системный анализ, управление и обработка информации

В данной статье предложены варианты частичного резервирования сбоеустойчивых структур программируемых логических интегральных схем (ПЛИС) посредством формирования внутренней структуры из макроячеек, с возможностью исправления одиночных обратимых сбоев в вентилях схемы. Предложены варианты минимизации встроенной избыточности. Проведена экспериментальная работа, по формированию сбоеустойчивых проектов комбинационных схем в базисе сбоеустойчивых ПЛИС.

Ключевые слова: комбинационная схема, ПЛИС, программируемые логические интегральные схемы, LUT, логический синтез, повышение сбоеустойчивости, система автоматизации проектирования (САПР), инжектирование ошибок, кратковременные единичные сбои

05.13.05 - Элементы и устройства вычислительной техники и систем управления